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TSI粒徑譜儀3321

TSI粒徑譜儀3321

3321 空氣動力學粒徑譜儀(APS?) 提供 0.5 至 20 微米粒徑范圍粒子的高分辨率、實時空氣動力學檢測。這些獨特的粒徑分析儀還檢測 0.37 至 20 微米粒徑范圍粒子的光散射強度。APS 粒徑譜儀通過向同一粒子提供成對數據向有興趣研究氣溶膠組成···...
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詳情介紹

3321 空氣動力學粒徑譜儀(APS?) 提供 0.5 至 20 微米粒徑范圍粒子的高分辨率、實時空氣動力學檢測。這些獨特的粒徑分析儀還檢測 0.37 至 20 微米粒徑范圍粒子的光散射強度。APS 粒徑譜儀通過向同一粒子提供成對數據向有興趣研究氣溶膠組成的人士開辟了令人振奮的新途徑。


特點優勢

APS 粒徑譜儀使用取得專利*的雙峰光學系統,具有無與倫比的粒徑檢測精度。它還包括新設計的噴嘴結構和改進的信號處理。因此,它具有更大的小粒徑檢測效率、提高的質量分布精確度并有效消除錯誤背景計數。


技術參數

雙峰光學系統產生高精度檢測。

測量 0.37 至 20 μm 粒子的光散射強度

測量 0.5 至 20 μm粒子的空氣動力學粒徑


應用范圍

吸入毒理學

給藥研究

大氣研究

環境空氣監測

室內空氣質量監測

濾料和空氣清潔器測試

測試氣溶膠特性

粉塵粒徑檢測


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